ASTM F 980-1992 测量硅半导体器件中电子感应位移故障的快速退火
作者:标准资料网 时间:2024-04-29 04:02:19 浏览:9356
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【英文标准名称】:theMeasurementofRapidAnnealingofNeutron-InducedDisplacementDamageinSiliconSemiconductorDevices
【原文标准名称】:测量硅半导体器件中电子感应位移故障的快速退火
【标准号】:ASTMF980-1992
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1992
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;损伤;退火;半导体器件;测量
【英文主题词】:measurement;electronicengineering;annealing;damage;semiconductordevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_00
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:测量硅半导体器件中电子感应位移故障的快速退火
【标准号】:ASTMF980-1992
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1992
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;损伤;退火;半导体器件;测量
【英文主题词】:measurement;electronicengineering;annealing;damage;semiconductordevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_00
【页数】:5P;A4
【正文语种】:英语
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